Отражательная электронная микроскопия

Отражательная электронная микроскопия

В этой главе мы будем иметь дело главным образом со свойствами поверхностей твердых тел и их взаимодействием при неподвижном контакте или при скольжении. Для изучения этих явлений разработан ряд методов исследования структуры и топографии поверхности. В первой части книги мы описали использование суповых приборов, метод поперечных и косых сечений, применение интерференции и другие методы.

Некоторые из этих методов будут описаны в различных главах этой книги.

В этой главе мы расскажем о более новых и эффективных методах исследования, которые совершенствовались в то время, когда первая часть настоящей монографии уже была опубликована. Электронный микроскоп является превосходным инструментом для изучения топографии поверхности.

Однако при использовании этого прибора встречаются трудности по приготовлению реплик. Этого можно избежать, если применяется метод исследования объекта на отражение.

Большие работы в этой области проводятся в, Франции, Англии.

Принцип этого метода заключается в том, чтобы направить на исследуемую поверхность электронный пучок от источника и затем сфокусировать отраженные электроны обычным путем.

Схема подобного устройства.

Электронная микрофотография выявляет контуры поверхности примерно так же, как пешеход видит неровности поверхности дороги, освещенные фарами приближающегося автомобиля. Неровностями поверхности отбрасываются длинные тени, причем они искажены вследствие малого утла зрения.

Если известны угол наклона электронного пучка и угол зрения, то легко подсчитать истинную высоту выступов поверхности.

Большое преимущество этого метода заключается в том, что нет необходимости изготовлять реплики, так как под электронным пучком исследуется непосредственно поверхность.

Добавить комментарий

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *